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黄春益 (黄春益.) | 马卫东 (马卫东.) | 张喆 (张喆.) | 谢雪松 (谢雪松.) | 吕长志 (吕长志.) | 李志国 (李志国.)

收录:

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摘要:

模拟开关电源DC/DC模块内部电路为开关电源中的功率器件-垂直导电双扩散MOS (VDMOS) 和肖特基二极管(SBD)-提供恒定电应力,并对其施加温度应力进行加速寿命试验.采用恒定电应力温度斜坡法(CETRM),对开关电源中功率器件VDMOS和SBD的可靠性进行评价;对其失效机理一致性进行分析,计算其失效激活能;并在失效机理一致的范围内外推正常使用条件下的寿命,为开关电源整体可靠性评价提供依据.

关键词:

DC/DC变换器 加速寿命试验 开关电源 恒定电应力温度斜坡法

作者机构:

  • [ 1 ] [黄春益]北京工业大学
  • [ 2 ] [马卫东]北京工业大学
  • [ 3 ] [张喆]北京工业大学
  • [ 4 ] [谢雪松]北京工业大学
  • [ 5 ] [吕长志]北京工业大学
  • [ 6 ] [李志国]北京工业大学

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来源 :

微电子学

ISSN: 1004-3365

年份: 2010

期: 2

卷: 40

页码: 278-282

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