高级检索
检索提示:高级检索多个条件检索时是按照顺序运算的:如 A或B与C 即:(A或B)与C
[期刊论文]
批量准则下的控制图在完全检验中的最优设计
作者:
收录:
摘要:
为了帮助企业提高产品质量,减少生产成本,对于对产品采用完全检验的企业,提出了在批量准则下,建立生产过程的期望质量损失成本最优模型,并进行了大量的数值实验,结果表明该准则下的期望质量损失成本总体上优于其他准则.
关键词:
作者机构:
通讯作者信息:
电子邮件地址:
相关关键词:
相关文章:
2001,北京工业大学学报
2000,数理统计与管理
2001,数理统计与管理
2002,CAM与制造业信息化
来源 :
北京工业大学学报
ISSN: 0254-0037
年份: 2009
期: 5
卷: 35
页码: 690-696
被引次数:
WoS核心集被引频次: 0
SCOPUS被引频次:
ESI高被引论文在榜: 0 展开所有
万方被引频次: -1
中文被引频次:
近30日浏览量: 0
归属院系:
全文获取
外部链接: