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李天璘 (李天璘.) | 朱彦旭 (朱彦旭.) | 徐晨 (徐晨.) (学者:徐晨) | 高国 (高国.) | 沈光地 (沈光地.)

收录:

CQVIP PKU CSCD

摘要:

由于ITO具有复杂的微观结构和吸收机制,很难准确测量出它的光学常数。采用变入射角光度椭偏仪(VASE)建立了一套简单的拟合模型,成功拟合出ITO光学常数在可见光范围内随波长的变化关系。并在此基础上分析了电子束蒸发法蒸发速率对ITO薄膜光学常数的影响。根据Hall效应测量了ITO在不同蒸发速率下的载流子浓度,分析了ITO光学常数随蒸发速率增加而增加的机理。

关键词:

ITO 椭偏仪 电子束蒸发法 蒸发速率

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学电控学院光电子技术实验室

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年份: 2009

期: 01

卷: 40

页码: 56-59

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