• 综合
  • 标题
  • 关键词
  • 摘要
  • 学者
  • 期刊-刊名
  • 期刊-ISSN
  • 会议名称
搜索

作者:

高立新 (高立新.) | 何金群 (何金群.) | 胥永刚 (胥永刚.) | 张聪敏 (张聪敏.)

收录:

CQVIP PKU

摘要:

杜芬振子在故障诊断中的应用主要是进行故障特征的微弱正弦信号检测。杜芬振子具有对噪声强免疫能力,根据相位图的变化可判断是否存在待检测的微弱故障特征信号,如果需要检测多个特征信号,可以设定杜芬阵列。目前对于故障信号幅值大小的确定还在定性检测水平。同时在故障诊断中还可以进行杜芬振子逆向检测。

关键词:

幅值检测 杜芬振子 杜芬阵列 逆向检测

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学机电学院北京市先进制造技术重点实验室

通讯作者信息:

电子邮件地址:

查看成果更多字段

相关关键词:

相关文章:

来源 :

机械设计与制造

年份: 2009

期: 03

页码: 77-79

被引次数:

WoS核心集被引频次: 0

SCOPUS被引频次:

ESI高被引论文在榜: 0 展开所有

万方被引频次:

中文被引频次:

近30日浏览量: 1

在线人数/总访问数:6659/2951717
地址:北京工业大学图书馆(北京市朝阳区平乐园100号 邮编:100124) 联系我们:010-67392185
版权所有:北京工业大学图书馆 站点建设与维护:北京爱琴海乐之技术有限公司