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作者:

汤云晖 (汤云晖.)

收录:

CQVIP PKU CSCD

摘要:

对有序结构的介孔材料进行小角度X射线衍射测试,结果表明:通过调整X射线衍射仪的光路系统,控制入射X射线和散射光的强度与覆盖范围,在常规实验条件下不能获得小角度衍射数据的样品,也可获得清晰的小角衍射数据。对于岛津XRD7000型衍射仪,合适的狭缝系统为:发散狭缝0.1°,防散射狭缝0.1°,接收狭缝0.15mm。测量条件为工作电压40kV、工作电流40mA,连续扫描方式,步长0.02°,扫描速率0.5°/min。介孔X衍射图谱主要在1°~2°出现衍射峰,一些0.6°~0.9°的峰可能由仪器设置、样品制备不当所致。

关键词:

X射线衍射 介孔材料 小角度衍射 狭缝系统

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学材料科学与工程学院实验教学中心

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来源 :

分析测试学报

年份: 2009

期: 03

卷: 28

页码: 365-367,371

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