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李天璘 (李天璘.) | 朱彦旭 (朱彦旭.) | 徐晨 (徐晨.) | 高国 (高国.) | 沈光地 (沈光地.)

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摘要:

由于ITO具有复杂的微观结构和吸收机制,很难准确测量出它的光学常数.采用变入射角光度椭偏仪(VASE)建立了一套简单的拟合模型,成功拟合出ITO光学常数在可见光范围内随波长的变化关系.并在此基础上分析了电子束蒸发法蒸发速率对ITO薄膜光学常数的影响.根据Hall效应测量了ITO在不同蒸发速率下的载流子浓度,分析了ITO光学常数随蒸发速率增加而增加的机理.

关键词:

电子束蒸发法 蒸发速率 ITO 椭偏仪

作者机构:

  • [ 1 ] [李天璘]北京工业大学
  • [ 2 ] [朱彦旭]北京工业大学
  • [ 3 ] [徐晨]北京工业大学
  • [ 4 ] [高国]北京工业大学
  • [ 5 ] [沈光地]北京工业大学

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ISSN: 1001-9731

年份: 2009

期: 1

卷: 40

页码: 56-59

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