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作者:

张亦良 (张亦良.) | 张振海 (张振海.) | 刘金艳 (刘金艳.)

收录:

CQVIP PKU CSCD

摘要:

利用X射线衍射法系统研究了16种不同喷丸工艺产生的残余应力.每个工件取4个不同位置测点,每测点在表面下250μm范围内取8个测试深度,采用电解抛光进行剥层,结果表明:国产弹丸最大残余压应力出现在表面下50μm处,影响层深150μm;进口弹丸最大应力出现在50~75μm处,影响层深为200μm;喷丸工艺中抛头转速与阿尔门值成正比,随阿尔门值增大残余应力略有增加,但残余应力最大值与阿尔门值之间没有定量对应关系;喷丸后残余应力的影响层深度与弹丸特性有直接关系,而与抛头转速无关.

关键词:

X射线衍射 喷丸 残余应力

作者机构:

  • [ 1 ] [张亦良]北京工业大学
  • [ 2 ] [张振海]北京工业大学
  • [ 3 ] [刘金艳]北京工业大学

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来源 :

北京工业大学学报

ISSN: 0254-0037

年份: 2009

期: 12

卷: 35

页码: 1585-1590

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