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用加速试验评估器件长期贮存寿命的研究
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电子元器件长期贮存条件下,主要受到温度、湿度、盐雾气氛等环境应力影响而失效.而将这些影响因素扩大来快速评价器件的长期贮存可靠性是目前器件可靠性研究的重点之一.本文给出了几种常用的加速应力模型及其适用条件.
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来源 ：
电子产品可靠性与环境试验
ISSN： 1672-5468
年份： 2009
期： z1
卷： 27
页码： 72-75
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