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吕长志 (吕长志.) | 张小玲 (张小玲.) | 谢雪松 (谢雪松.) | 程尧海 (程尧海.) | 王东凤 (王东凤.) | 李志国 (李志国.)

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摘要:

测试了存贮24-37年的国产14种型号晶体管的输出特性.贮存37年的3DK7F 100只中,1只发生致命性失效;4只晶体管的共射极直流电流放大倍数hFE减小超规范失效,其最大退化率为-50%,年均退化率-1.35%.存贮29年的3DG101F,7只中有3只hFE的减小超过-30%,占该批晶体管43%,hFE最大退化从110减小到73,退化率为-34%.年均退化率-1.2%.存贮30年的J3AX54B hFE增加幅度最大,从120增加到134,增加了12%.年均增加0.4%.测试结果表明:在长期贮存中,晶体管的输出特性会发生退化;hFE值即有增加,也有减小.

关键词:

晶体管 可靠性 长期贮存

作者机构:

  • [ 1 ] [吕长志]北京工业大学
  • [ 2 ] [张小玲]北京工业大学
  • [ 3 ] [谢雪松]北京工业大学
  • [ 4 ] [程尧海]北京工业大学
  • [ 5 ] [王东凤]北京工业大学
  • [ 6 ] [李志国]北京工业大学

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来源 :

电子产品可靠性与环境试验

ISSN: 1672-5468

年份: 2009

期: z1

卷: 27

页码: 69-72

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