Electron　backscatter　diffraction　(EBSD)　was　used　for　distinguishing　crystallographic　orientations　and　local　lattice　misfits　of　a　La2Zr2O7　(LZO)　buffer　layer　epitaxially　grown　on　a　cube　textured　Ni-5.%W　(Ni-W)　substrate　for　a　YBCO　superconductor　film.　Orientation　data　were　obtained　from　the　LZO　epilayer　using　low　energy　primary　electrons　(5　key)　and　from　the　Ni-W　substrate　by　increasing　the　voltage　to　15　key.　In-plane　and　out-of-plane　orientations　of　the　LZO　epilayer　were　revealed　with　respect　to　its　Ni-W　substrate.　A　strong　{1　0　0}　＜　0　1　1　＞　rotated-cube　texture　in　the　LW　epilayer　was　formed　on　the　{1　0　0}　＜　0　0　1　＞　cube-textured　Ni-W　substrates.　LZO　and　Ni　in-plane　crystallographic　axes　are　related　by　an　expected　45　rotation.　The　step-misorientations　and　the　local　misfit　strains　between　the　LZO　epilayer　and　the　substrate　were　also　analyzed.　(C)　2011　Elsevier　B.V.　All　rights　reserved.