Structural characterization of highly defective Al-Pd-Fe crystalline approximant - 文章详情页

作者：

Sun, W. (Sun, W..) (学者：孙威) | Wang, J. P. (Wang, J. P..) | Liu, Z. Y. (Liu, Z. Y..)

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关键词：

complex_structure defect electron_microscopy

作者机构：

[ 1 ] [Sun, W.]Beijing Univ Technol, Inst Microstruct & Property Adv Mat, 100 Pingle Yuan, Beijing 100124, Peoples R China
[ 2 ] [Wang, J. P.]Beijing Univ Technol, Inst Microstruct & Property Adv Mat, 100 Pingle Yuan, Beijing 100124, Peoples R China
[ 3 ] [Liu, Z. Y.]Beijing Univ Technol, Inst Microstruct & Property Adv Mat, 100 Pingle Yuan, Beijing 100124, Peoples R China

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weisun@bjut.edu.cn

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来源：

ACTA CRYSTALLOGRAPHICA A-FOUNDATION AND ADVANCES

ISSN： 2053-2733

年份： 2011

卷： 67

页码： C623-C623

1 . 8 0 0

JCR@2022

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