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采用扫描电镜(SEM)和电子背散射衍射(EBSD)技术,原位测量了Ni-W合金在不同应变状态下的晶体学参数,包括Kikuchi花样质量(IQ值)及可信度(CI)、晶格错配、晶界类型、晶粒尺寸和织构.采用快速傅立叶变换(FFT)对菊池花样进行了处理,并计算其衍射强度.当Ni-W的应变量增加到1.57倍,Kikuchi花样的衍射强度降低到54%,从而导致IQ和CI值减小,允差角(Fit)和位错密度增大.结果表明IQ、CI、Fit及晶格错配可作为应变敏感参数,评价多晶材料中的应力和应变状态.
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