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顾晓玲 (顾晓玲.) | 郭霞 (郭霞.) (学者:郭霞) | 吴迪 (吴迪.) | 李一博 (李一博.) | 沈光地 (沈光地.)

收录:

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摘要:

通过调整GaN基发光二极管(LED)表面InGaN层的厚度,发现在20mA电流驱动下,LED器件的正向压降有明显差距.本文考虑了极化效应的影响,通过求解InGaN/GaN三角形势阱内二维空穴气浓度以及空穴隧穿概率的变化,求得了表面InGaN层厚度不同时器件正向压降的变化趋势,发现理论结果与实验结果有很好的吻合.同时得到了获得最低正向压降的表面InGaN厚度.

关键词:

二维空穴气 极化 隧穿概率

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学 北京市光电子技术实验室
  • [ 2 ] 北京工业大学
  • [ 3 ] 北京市光电子技术实验室
  • [ 4 ] 北京100022

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来源 :

物理学报

年份: 2008

期: 02

页码: 1220-1223

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