高级检索
检索提示：高级检索多个条件检索时是按照顺序运算的：如 A或B与C 即:(A或B)与C
[期刊论文]
数字电视解调芯片的可测试性设计与优化
作者：
收录：
摘要：
介绍了VLSI芯片的测试技术及故障模型,针对一款数字电视接收系统解调芯片,从设计中不同的阶段分析了集成电路的可测试性设计及其优化,解决了由于集成大量存储器引起的测试覆盖率低的问题,完成了该芯片满足时序要求的可测试性设计及优化过程,达到了流片要求.
关键词：
作者机构：
通讯作者信息：
电子邮件地址：
相关关键词：
相关文章：
2012，电子科技
2016，
2014，中国集成电路
2015，电子器件
来源 ：
微电子学与计算机
ISSN： 1000-7180
年份： 2008
期： 8
卷： 25
页码： 172-175
被引次数：
WoS核心集被引频次： 0
SCOPUS被引频次：
ESI高被引论文在榜： 0 展开所有
万方被引频次： 2
中文被引频次：
近30日浏览量： 2
归属院系：
全文获取
外部链接：
