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贺卫利 (贺卫利.) | 郭伟玲 (郭伟玲.) | 高伟 (高伟.) | 史辰 (史辰.) | 陈曦 (陈曦.) | 吴娟 (吴娟.) | 陈建新 (陈建新.)

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摘要:

介绍了发光二极管(LED)的发展简史.提出可能影响LED可靠性的几种因素,主要有封装中的散热问题和LED本身材料缺陷.对于LED可靠性,主要方法是通过测试其寿命来分析其可靠性,一般采取加速实验的方法来测试推导LED寿命.介绍了根据加速应力(主要分为单一加速应力和复合加速应力2种)评价LED寿命的测试方法.在不同加速试验应力条件下测试了大功率LED可靠性,并建立了LED寿命的几种数学模型.最后根据具体实例,通过选择加速应力和试验方法,给出具体推导LED寿命的数学公式.

关键词:

加速应力 发光二极管 寿命评价试验方法 数学模型

作者机构:

  • [ 1 ] [贺卫利]北京工业大学
  • [ 2 ] [郭伟玲]北京工业大学
  • [ 3 ] [高伟]北京工业大学
  • [ 4 ] [史辰]北京工业大学
  • [ 5 ] [陈曦]北京工业大学
  • [ 6 ] [吴娟]北京工业大学
  • [ 7 ] [陈建新]北京工业大学

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来源 :

应用光学

ISSN: 1002-2082

年份: 2008

期: 4

卷: 29

页码: 533-536,561

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