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LabVIEW在精密仪器控制中的应用

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作者:

王亚丽 (王亚丽.) | 王铁流 (王铁流.) | 张黎 (张黎.)

收录:

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摘要:

精密仪器操作相对复杂,使用不当容易造成设备灵敏度降低甚至损坏。采用LabVIEW可以轻松组建精密仪器测控系统并在PC机上构造自己的仪器界面。利用LabVIEW在精密仪器测量中的优势,以Agilent公司的高精度数字万用表HP34401A为例对程控精密仪器测试系统的设计方法进行了研究,给出了一个红外光敏传感器温漂测试的实例。测试表明,利用LabVIEW组建的精密仪器测控系统可以简化操作步骤,有效避免误操作,确保仪器的测量精度。

关键词:

传感器 数字万用表 精密仪器 LabVIEW

作者机构:

  • [ 1 ] 曲阜师范大学物理工程学院
  • [ 2 ] 北京工业大学电子信息与控制工程学院
  • [ 3 ] 北京工业大学耿丹学院 山东曲阜273165
  • [ 4 ] 北京100022
  • [ 5 ] 北京101301

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来源 :

现代电子技术

年份: 2007

期: 06

页码: 60-62

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