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段志强 (段志强.) | 王如志 (王如志.) (学者:王如志) | 袁瑞玚 (袁瑞玚.) | 王波 (王波.) (学者:王波) | 严辉 (严辉.)

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摘要:

考虑到薄膜中的电子散射,发展与完善了现有的场发射F-N(Fowler-Nordheim)模型,理论研究了不同厚度的半导体薄膜对其场发射性能的影响。结果表明:薄膜厚度对场发射性能的影响是非常显著的,随着薄膜厚度的增加,将相继出现极差膜厚值与最佳膜厚值,理论计算很好地验证了已有的实验结果;并进一步理论分析了半导体薄膜场发射性能随膜厚变化行为的物理实质,其可能来源于有效隧穿势垒面积的改变及电流密度在薄膜中的散射衰减。

关键词:

场发射膜厚影响 散射衰减 有效隧穿势垒面积

作者机构:

  • [ 1 ] 北京工业大学材料科学与工程学院薄膜材料实验室
  • [ 2 ] 北京工业大学材料科学与工程学院薄膜材料实验室 北京100022
  • [ 3 ] 北京100022中国科学院半导体研究所半导体材料重点实验室
  • [ 4 ] 北京100083
  • [ 5 ] 北京100022

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来源 :

发光学报

年份: 2007

期: 02

页码: 256-262

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