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[期刊论文]
基于遗传算法的逻辑电路测试生成的研究
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本文提出了一种基于遗传算法的逻辑电路测试生成算法,利用遗传算法的全局寻优特点进行集成电路的测试生成,并与确定性算法进行了比较,所得到的实验结果表明,遗传算法可以在比较小的测试矢量集下得到比较高的故障覆盖率,是一个有效的测试生产算法.
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来源 ：
首都师范大学学报（自然科学版）
ISSN： 1004-9398
年份： 2007
期： 5
卷： 28
页码： 22-25,29
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