• 综合
  • 标题
  • 关键词
  • 摘要
  • 学者
  • 期刊-刊名
  • 期刊-ISSN
  • 会议名称
搜索

作者:

梅燕 (梅燕.) | 韩业斌 (韩业斌.) | 聂祚仁 (聂祚仁.) (学者:聂祚仁)

收录:

PKU

摘要:

化学机械抛光(CMP)技术作为目前唯一的可以提供在整个圆硅晶片上全面平坦化的工艺技术,已被越来越广泛地应用到了半导体领域.重点叙述了CMP技术背景、设备、抛光原理、发展现状、存在的问题以及未来的发展趋势.

关键词:

化学机械抛光(CMP)技术 浆料 硅片

作者机构:

  • [ 1 ] [梅燕]北京工业大学
  • [ 2 ] [韩业斌]北京工业大学
  • [ 3 ] [聂祚仁]北京工业大学

通讯作者信息:

电子邮件地址:

查看成果更多字段

相关关键词:

来源 :

润滑与密封

ISSN: 0254-0150

年份: 2006

期: 9

页码: 206-212

被引次数:

WoS核心集被引频次: 0

SCOPUS被引频次:

ESI高被引论文在榜: 0 展开所有

万方被引频次: 36

中文被引频次:

近30日浏览量: 1

在线人数/总访问数:4687/2976482
地址:北京工业大学图书馆(北京市朝阳区平乐园100号 邮编:100124) 联系我们:010-67392185
版权所有:北京工业大学图书馆 站点建设与维护:北京爱琴海乐之技术有限公司