高级检索
检索提示:高级检索多个条件检索时是按照顺序运算的:如 A或B与C 即:(A或B)与C
[期刊论文]
用于超精密硅晶片表面的化学机械抛光(CMP)技术研究
作者:
收录:
摘要:
化学机械抛光(CMP)技术作为目前唯一的可以提供在整个圆硅晶片上全面平坦化的工艺技术,已被越来越广泛地应用到了半导体领域.重点叙述了CMP技术背景、设备、抛光原理、发展现状、存在的问题以及未来的发展趋势.
关键词:
作者机构:
通讯作者信息:
电子邮件地址:
相关关键词:
相关文章:
2009,美术之友
2017,北京工业大学学报
2005,中国机械工程
2005,中国微米、纳米技术第七届学术会年会
来源 :
润滑与密封
ISSN: 0254-0150
年份: 2006
期: 9
页码: 206-212
被引次数:
WoS核心集被引频次:
SCOPUS被引频次:
ESI高被引论文在榜: 0 展开所有
万方被引频次: 36
中文被引频次:
近30日浏览量: 0
归属院系:
材料与制造学部 本学院/部未明确归属的数据
全文获取
外部链接: