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王如志 (王如志.) (学者:王如志) | 王波 (王波.) (学者:王波) | 宋雪梅 (宋雪梅.) | 严辉 (严辉.)

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摘要:

近年来,由于AlN薄膜具有负的电子亲和势而可能具有良好的场发射特性,其相关研究引起了人们的关注[1,2].为改善薄膜结构场发射特性,可采用材料改性,如重掺杂方法[1,2],完善其能带结构,使得场隧穿电子能力增强.但人们很少关注内在材料原子结构排列方式对于场发射性能的影响.而纳米碳管[3]被发现具有极为优异的场发射特性.最近,研究也发现AlN纳米管具有非常优异的发射性能[4].一般而言,纳米管材料原子结构排列方式具有高度的取向特性,这是否意味着择优取向性材料将可能具有更优异的场发射特性,并且是否可以考虑从完善AlN薄膜取向特性来提高其场发射性能.本文将通过比较两种取向结构的AlN薄膜场对于其发射性能的影响,结果表明,对于单一择优取向的AlN薄膜具有更为优异的场发射特性,这也验证了高度取向性结构对提高AlN薄膜场发射性能是完全可能的.但据我们所知,尚无相关系统研究涉及到材料取向特性对场发射性能的影响,因此,取向薄膜场发射研究将具有较重要的科学意义与发展前景.

关键词:

Thin Films 原子结构 发射性能 发射特性 取向性 取向结构 场发射 择优取向 排列方式 掺杂方法 材料改性 测试分析 电子亲和势 相关研究 科学意义 系统研究 纳米碳管 纳米管材料 能带结构 薄膜取向

作者机构:

  • [ 1 ] [王如志]北京工业大学
  • [ 2 ] [王波]北京工业大学
  • [ 3 ] [宋雪梅]北京工业大学
  • [ 4 ] [严辉]北京工业大学

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来源 :

分析测试学报

ISSN: 1004-4957

年份: 2006

期: z1

卷: 25

页码: 155-156

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