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郭春生 (郭春生.) | 谢雪松 (谢雪松.) | 马卫东 (马卫东.) | 程尧海 (程尧海.) | 李志国 (李志国.)

收录:

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摘要:

通过对电子器件加速试验失效模型--Arrhenius模型的研究,发现加速试验过程中,失效机理不发生改变时,电子器件失效敏感参数的退化速率与施加应力的负倒数遵从指数关系,从而提出了一种加速试验失效机理一致性的判定方法.对样品3DG130进行了150~310℃的序进应力加速试验,快速得到了失效机理一致的应力范围,验证了该方法的可行性.

关键词:

一致性 加速试验 失效机理

作者机构:

  • [ 1 ] [郭春生]北京工业大学
  • [ 2 ] [谢雪松]北京工业大学
  • [ 3 ] [马卫东]北京工业大学
  • [ 4 ] [程尧海]北京工业大学
  • [ 5 ] [李志国]北京工业大学

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来源 :

半导体学报

ISSN: 0253-4177

年份: 2006

期: 3

卷: 27

页码: 560-563

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