• 综合
  • 标题
  • 关键词
  • 摘要
  • 学者
  • 期刊-刊名
  • 期刊-ISSN
  • 会议名称
搜索

作者:

朱修殿 (朱修殿.) | 吕长志 (吕长志.) | 鲁小妹 (鲁小妹.) | 张小玲 (张小玲.) | 张浩 (张浩.) | 徐立国 (徐立国.)

收录:

PKU CSCD

摘要:

回顾了在高温条件下A1GaN/GaN HEMT器件特性的研究进展.发现2DEG的高温特性是影响器件高温性能的根本内在因素,且外延材料的缺陷、衬底及其器件的封装形式也影响器件的高温特性.最后总结了适合高温下工作的AlGaN/GaN HEMT的改进方法.

关键词:

AlGaN/GaN 二维电子气 高温特性 高电子迁移率晶体管

作者机构:

  • [ 1 ] [朱修殿]北京工业大学
  • [ 2 ] [吕长志]北京工业大学
  • [ 3 ] [鲁小妹]北京工业大学
  • [ 4 ] [张小玲]北京工业大学
  • [ 5 ] [张浩]北京工业大学
  • [ 6 ] [徐立国]北京工业大学

通讯作者信息:

电子邮件地址:

查看成果更多字段

相关关键词:

来源 :

半导体技术

ISSN: 1003-353X

年份: 2006

期: 1

卷: 31

页码: 48-51

被引次数:

WoS核心集被引频次:

SCOPUS被引频次:

ESI高被引论文在榜: 0 展开所有

万方被引频次: 2

中文被引频次:

近30日浏览量: 2

归属院系:

在线人数/总访问数:1880/2916552
地址:北京工业大学图书馆(北京市朝阳区平乐园100号 邮编:100124) 联系我们:010-67392185
版权所有:北京工业大学图书馆 站点建设与维护:北京爱琴海乐之技术有限公司