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胡修振 (胡修振.) | 李志国 (李志国.) | 郭春生 (郭春生.) | 吴月花 (吴月花.) | 廖京宁 (廖京宁.)

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摘要:

多芯片组件(MCM)的可靠性特别是其热可靠性已经成为国内外电子产品可靠性研究的焦点之一.热有限元分析法是多芯片组件热分析的重要方法.本文运用ANSYS工具建立了MCM的三维热模型,得到了温场分布.通过热模拟和热分析,提出了改善MCM温场的方案.

关键词:

热分析 ANSYS 有限元分析 热模拟 多芯片组件

作者机构:

  • [ 1 ] [胡修振]北京工业大学
  • [ 2 ] [李志国]北京工业大学
  • [ 3 ] [郭春生]北京工业大学
  • [ 4 ] [吴月花]北京工业大学
  • [ 5 ] [廖京宁]北京工业大学

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来源 :

半导体学报

ISSN: 0253-4177

年份: 2006

期: z1

卷: 27

页码: 351-353

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