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张跃宗 (张跃宗.) | 冯士维 (冯士维.) (学者:冯士维) | 谢雪松 (谢雪松.) | 李瑛 (李瑛.) | 杨集 (杨集.) | 孙静莹 (孙静莹.) | 吕长志 (吕长志.)

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摘要:

通过电学测量方法得到了半导体功率发光二极管温升与热阻的加热响应曲线.曲线出现一个或多个台阶,反映了其内部的热阻构成与器件物理结构.同时采用遮光法对器件温升及热阻进行了修正.还应用瞬态加热响应原理对功率管的封装结构进行了监测.

关键词:

发光效率 可靠性 工作寿命 温升 热阻

作者机构:

  • [ 1 ] [张跃宗]北京工业大学
  • [ 2 ] [冯士维]北京工业大学
  • [ 3 ] [谢雪松]北京工业大学
  • [ 4 ] [李瑛]北京工业大学
  • [ 5 ] [杨集]北京工业大学
  • [ 6 ] [孙静莹]北京工业大学
  • [ 7 ] [吕长志]北京工业大学

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来源 :

半导体学报

ISSN: 0253-4177

年份: 2006

期: 2

卷: 27

页码: 350-353

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