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摘要:

利用自洽迭代数值计算方法,对多发射极微波功率SiGe HBT芯片热电耦合特性进行了模拟和分析.结果表明,通过对晶体管发射极条长、条间距的调整,可以有效地改善芯片温度分布的不均匀性,提高晶体管的热稳定性和功率处理能力.

关键词:

SiGe/Si 异质结晶体管 热电耦合

作者机构:

  • [ 1 ] [张万荣]北京工业大学
  • [ 2 ] [何莉剑]北京工业大学
  • [ 3 ] [谢红云]北京工业大学
  • [ 4 ] [杨经伟]北京工业大学
  • [ 5 ] [金冬月]北京工业大学
  • [ 6 ] [肖盈]北京工业大学
  • [ 7 ] [沙永萍]北京工业大学
  • [ 8 ] [王扬]北京工业大学
  • [ 9 ] [张蔚]北京工业大学

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相关关键词:

来源 :

微电子学

ISSN: 1004-3365

年份: 2006

期: 5

卷: 36

页码: 591-594

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