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摘要:

利用金属有机物化学气相沉积技术在具有斜切角度的蓝宝石衬底(0~0.3°)上生长了非故意掺杂GaN薄膜,并采用显微镜、X射线双晶衍射、光荧光及霍尔技术对外延薄膜的表面形貌、晶体质量、光学及电学特性进行了分析.结果表明,采用具有斜切角度的衬底,可以有效改善GaN外延薄膜的表面形貌、降低位错密度、提高GaN的晶体质量及其光电特性,并且存在一个衬底最优斜切角度0.2°,此时外延生长出的GaN薄膜的表面形貌和晶体质量最好.

关键词:

蓝宝石衬底 氮化镓 斜切角度 MOCVD DCXRD

作者机构:

  • [ 1 ] [牛南辉]北京工业大学
  • [ 2 ] [王怀兵]北京工业大学
  • [ 3 ] [刘建平]北京工业大学
  • [ 4 ] [刘乃鑫]北京工业大学
  • [ 5 ] [邢艳辉]北京工业大学
  • [ 6 ] [李彤]北京工业大学
  • [ 7 ] [张念国]北京工业大学
  • [ 8 ] [韩军]北京工业大学
  • [ 9 ] [邓军]北京工业大学
  • [ 10 ] [沈光地]北京工业大学

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来源 :

功能材料

ISSN: 1001-9731

年份: 2006

期: 12

卷: 37

页码: 1914-1916

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