高级检索
检索提示：高级检索多个条件检索时是按照顺序运算的：如 A或B与C 即:(A或B)与C
[期刊论文]
快速评价半导体器件失效激活能的方法
作者：
收录：
摘要：
通过对序进应力加速寿命试验的研究,提出了一种快速评价半导体器件失效激活能的方法,建立了计算失效激活能的理论模型.并对硅pnp三极管3CG120进行额定功率下,170～345℃范围内的序进应力加速寿命试验,快速提取器件失效敏感参数hFE与所施加应力的关系,根据模型对器件退化过程中的失效机理进行研究、计算,从而确定其对应的失效激活能.
关键词：
作者机构：
通讯作者信息：
电子邮件地址：
相关关键词：
相关文章：
2005，第十一届全国可靠性物理学术讨论会
2009，2009第十三届全国可靠性物理学术讨论会
2010，微电子学
2010，2010第十五届可靠性学术年会
来源 ：
半导体技术
ISSN： 1003-353X
年份： 2006
期： 2
卷： 31
页码： 122-126
被引次数：
WoS核心集被引频次： 0
SCOPUS被引频次：
ESI高被引论文在榜： 0 展开所有
万方被引频次： 19
中文被引频次：
近30日浏览量： 2
归属院系：
全文获取
外部链接：
