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盖红星 (盖红星.) | 陈建新 (陈建新.) | 邓军 (邓军.) | 廉鹏 (廉鹏.) | 俞波 (俞波.) | 李建军 (李建军.) | 韩军 (韩军.) | 沈光地 (沈光地.)

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摘要:

外延膜层厚度的精确性对垂直腔面发射激光器(VCSEL)是十分重要的.应用传输矩阵方法分析了厚度偏差对半导体布拉格反射镜(DBR)反射谱的影响,并利用这种影响提出了一种金属有机化合物汽相淀积(MOCVD)制备布拉格反射镜精确确定外延厚度的方法.据此,应用MOCVD生长了980 nmVCSEL外延片,其反射谱中心波长为982 nm.结果表明,应用这种方法能够实现材料厚度、MOCVD系统生长参数的定标以及为VCSEL的材料生长提供可靠的依据.

关键词:

反射谱 布拉格反射镜 膜厚测定 金属有机化合物汽相淀积

作者机构:

  • [ 1 ] [盖红星]北京工业大学
  • [ 2 ] [陈建新]北京工业大学
  • [ 3 ] [邓军]北京工业大学
  • [ 4 ] [廉鹏]北京工业大学
  • [ 5 ] [俞波]北京工业大学
  • [ 6 ] [李建军]北京工业大学
  • [ 7 ] [韩军]北京工业大学
  • [ 8 ] [沈光地]北京工业大学

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来源 :

光学精密工程

ISSN: 1004-924X

年份: 2006

期: 1

卷: 14

页码: 54-57

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