• 综合
  • 标题
  • 关键词
  • 摘要
  • 学者
  • 期刊-刊名
  • 期刊-ISSN
  • 会议名称
搜索

作者:

刘婧 (刘婧.) | 吕长志 (吕长志.) | 李志国 (李志国.) | 郭春生 (郭春生.) | 冯士维 (冯士维.) (学者:冯士维)

收录:

CQVIP PKU CSCD

摘要:

加速寿命试验作为可靠性试验的一个组成部分,是控制、提高电子产品可靠性的常用方法.目前有三种加速寿命试验方法:恒定应力、步进应力和序进应力加速寿命试验.简要介绍了加速寿命试验的概念,举例说明这三种方法的实施方案及数据处理,从实际操作角度比较了三种方法的优、缺点,并对其应用情况做了介绍.

关键词:

加速寿命试验 可靠性 电子元器件

作者机构:

  • [ 1 ] [刘婧]北京工业大学
  • [ 2 ] [吕长志]北京工业大学
  • [ 3 ] [李志国]北京工业大学
  • [ 4 ] [郭春生]北京工业大学
  • [ 5 ] [冯士维]北京工业大学

通讯作者信息:

电子邮件地址:

查看成果更多字段

相关关键词:

相关文章:

来源 :

半导体技术

ISSN: 1003-353X

年份: 2006

期: 9

卷: 31

页码: 680-683

被引次数:

WoS核心集被引频次: 0

SCOPUS被引频次:

ESI高被引论文在榜: 0 展开所有

万方被引频次: 35

中文被引频次:

近30日浏览量: 2

归属院系:

在线人数/总访问数:3401/2947764
地址:北京工业大学图书馆(北京市朝阳区平乐园100号 邮编:100124) 联系我们:010-67392185
版权所有:北京工业大学图书馆 站点建设与维护:北京爱琴海乐之技术有限公司