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[期刊论文]
LD内损耗测试新方法
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提出了一种新的测试LD内损耗方法,它通过对后腔面镀高反膜,并对前腔面镀不同反射率增透膜,然后根据外微分量子效率倒数1/ηe与1/ln[1/(RfRr)的线性关系(Rf和Rr分别为前后腔面反射率)求出内损耗值.这样可以消除常用的测试LD内损耗方法中因管座反射带来的误差,使误差降低达15%.
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来源 ：
光电子·激光
ISSN： 1005-0086
年份： 2006
期： 4
卷： 17
页码： 455-457
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