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摘要:

针对氢化微晶硅薄膜吸收系数较低、制备需要较高厚度,从而需要较高沉积速度的问题,考虑到压强对沉积速度及晶化比的重要影响,在分析了单一压强法制备薄膜优缺点的基础上,提出了采用两步法来制备高质量微晶硅薄膜的方法.即先采用高压制备薄膜2min,减小非晶转微晶的孵化层厚度,然后再采用低压制备薄膜18min,提高薄膜的致密度及减小氧含量,最后制备出了光敏性较高,晶化比较大并且光照稳定性也较好的优质氢化微晶硅薄膜.

关键词:

孵化层 微晶硅 晶化比 沉积速度 稳定性

作者机构:

  • [ 1 ] [朱秀红]北京工业大学
  • [ 2 ] [陈光华]北京工业大学
  • [ 3 ] [刘国汉]兰州大学
  • [ 4 ] [丁毅]兰州大学
  • [ 5 ] [何斌]北京工业大学
  • [ 6 ] [张文理]北京工业大学
  • [ 7 ] [马占洁]北京工业大学
  • [ 8 ] [郜志华]北京工业大学
  • [ 9 ] [李志中]

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来源 :

人工晶体学报

ISSN: 1000-985X

年份: 2006

期: 6

卷: 35

页码: 1203-1208

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