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摘要:

采用热丝辅助微波电子回旋共振化学汽相沉积(MW ECR-CVD)系统制备氢化非晶硅(a-Si:H)薄膜.实验证明在原有的MW ECR-CVD基础上加入热丝辅助系统能有效提高a-Si:H薄膜的沉积速率并大幅改善薄膜的稳定性;薄膜的沉积速率随着沉积压强的增加和热丝温度的上升而增加.通过光致衰退实验,将样品衰退前后的红外吸收谱图进行基线拟合和高斯函数拟合,计算得到薄膜的氢含量基本不发生变化,但Si-H与Si-H2组态的相对含量改变.

关键词:

a-Si:H薄膜 光致衰退 沉积速率 键合模式

作者机构:

  • [ 1 ] [张文理]北京工业大学
  • [ 2 ] [陈光华]北京工业大学
  • [ 3 ] [何斌]北京工业大学
  • [ 4 ] [朱秀红]北京工业大学
  • [ 5 ] [马占洁]北京工业大学
  • [ 6 ] [丁毅]兰州大学
  • [ 7 ] [刘国汉]兰州大学
  • [ 8 ] [郜志华]北京工业大学
  • [ 9 ] [宋雪梅]北京工业大学

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来源 :

真空科学与技术学报

ISSN: 1672-7126

年份: 2006

期: z1

卷: 26

页码: 67-70

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