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田凌 (田凌.) | 丁毅 (丁毅.) | 陈浩 (陈浩.) | 刘钧锴 (刘钧锴.) | 邓金祥 (邓金祥.) (学者:邓金祥) | 贺德衍 (贺德衍.) | 陈光华 (陈光华.)

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摘要:

利用射频溅射方法在n型Si(111)衬底上制备出立方相含量接近100%且粘附性较高的立方氮化硼(c-BN)薄膜.傅里叶变换红外谱(FTIR)的结果表明,基底负偏压对薄膜立方相含量和薄膜压应力有很大影响,另外,衬底的电阻率对c-BN生长和薄膜的压应力也有一定的影响.

关键词:

压应力 基底负偏压 射频溅射 立方氮化硼

作者机构:

  • [ 1 ] [田凌]兰州大学
  • [ 2 ] [丁毅]兰州大学
  • [ 3 ] [陈浩]北京工业大学
  • [ 4 ] [刘钧锴]北京工业大学
  • [ 5 ] [邓金祥]北京工业大学
  • [ 6 ] [贺德衍]兰州大学
  • [ 7 ] [陈光华]北京工业大学

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来源 :

物理学报

ISSN: 1000-3290

年份: 2006

期: 10

卷: 55

页码: 5441-5443

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