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路朋献 (路朋献.) | 侯育冬 (侯育冬.) (学者:侯育冬) | 朱满康 (朱满康.) | 严辉 (严辉.)

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摘要:

研究了Cr2O3掺杂对0.2Pb(Zn1/3Nb2/3)O3-Pb(Ti0.5Zr0.5)O3(PZN-PZT)陶瓷结构和电学性能的影响.结果表明,Cr2O3掺杂量小于0.3wt%时,Cr2O3能引起三方-四方相变,四方相含量增加,晶粒尺寸和烧结密度上升;掺杂量高于0.3wt%时,Cr2O3掺杂能抑制晶粒长大并降低烧结密度.同时,Cr2O3掺杂表现出硬性掺杂特征:εr变小,Qm值增加.而tanδ,kp和d33随Cr2O3掺杂量增加而表现出极值特征.最佳的压电性能出现在Cr2O3掺杂量为0.3wt%处.

关键词:

铬掺杂 相结构 压电性能 PZN-PZT

作者机构:

  • [ 1 ] [路朋献]北京工业大学
  • [ 2 ] [侯育冬]北京工业大学
  • [ 3 ] [朱满康]北京工业大学
  • [ 4 ] [严辉]北京工业大学

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来源 :

功能材料与器件学报

ISSN: 1007-4252

年份: 2005

期: 3

卷: 11

页码: 303-307

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