高级检索
检索提示：高级检索多个条件检索时是按照顺序运算的：如 A或B与C 即:(A或B)与C
[期刊论文]
快速确定微电子器件失效激活能及寿命试验的新方法
作者：
收录：
摘要：
提出了一种新的微电子器件快速评价方法-温度斜坡法,建立了确定失效激活能的新模型和寿命外推新模型,使用此模型可计算出单支器件的失效激活能并外推其寿命.同时,该方法的试验温度范围较宽,可以触发不同温度范围的多种退化模式,实现对不同退化机理的研究.
关键词：
作者机构：
通讯作者信息：
电子邮件地址：
相关关键词：
相关文章：
2005，第十一届全国可靠性物理学术讨论会
2006，半导体技术
2014，人工晶体学报
2016，硅酸盐学报
来源 ：
半导体学报
ISSN： 0253-4177
年份： 2005
期： 8
卷： 26
页码： 1662-1666
被引次数：
WoS核心集被引频次： 0
SCOPUS被引频次：
ESI高被引论文在榜： 0 展开所有
万方被引频次： 27
中文被引频次：
近30日浏览量： 1
归属院系：
全文获取
外部链接：
