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杨道虹 (杨道虹.) | 徐晨 (徐晨.) (学者:徐晨) | 董典红 (董典红.) | 张剑铭 (张剑铭.) | 阳启明 (阳启明.) | 金文贤 (金文贤.) | 沈光地 (沈光地.)

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摘要:

利用浓硼扩散腐蚀停止技术制备自由悬空硅薄膜时,在薄膜的表面观察到了呈分形生长的反应生成络合物聚集结构.研究表明,薄膜表面的生成物的分形属于典型的有限扩散集团凝聚模型,其分形维数值约为1.667.实验还发现,反应生成络合物的聚集结构以及能否产生聚集都受腐蚀腔体的深宽比影响.

关键词:

分形 分形维数 扫描电镜 腐蚀停止

作者机构:

  • [ 1 ] [杨道虹]北京工业大学
  • [ 2 ] [徐晨]北京工业大学
  • [ 3 ] [董典红]北京工业大学
  • [ 4 ] [张剑铭]北京工业大学
  • [ 5 ] [阳启明]北京工业大学
  • [ 6 ] [金文贤]北京工业大学
  • [ 7 ] [沈光地]北京工业大学

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来源 :

半导体学报

ISSN: 0253-4177

年份: 2005

期: 1

卷: 26

页码: 67-71

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