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半导体激光器可靠性评估系统设计

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作者:

胡小玲 (胡小玲.) | 徐萍萍 (徐萍萍.) | 阮颖 (阮颖.) | 展开

收录:

CQVIP PKU CSCD

摘要:

介绍了一种基于单片机控制的可预置工作电流值、工作温度值的半导体激光器可靠性评估系统的软、硬件设计方法.该方法以89C51单片机为核心部件,通过闭环反馈控制系统对工作电流、工作温度进行比较、调整,提高系统精度.该可靠性评估系统可实时显示工作电流及工作温度值.

关键词:

半导体激光器 单片机 MOS管驱动电路 温度控制

作者机构:

  • [ 1 ] [胡小玲]北京工业大学
  • [ 2 ] [徐萍萍]北京工业大学
  • [ 3 ] [阮颖]北京工业大学
  • [ 4 ] [于海鹰]北京工业大学
  • [ 5 ] [高国]北京工业大学
  • [ 6 ] [王林]北京工业大学
  • [ 7 ] [赵夕彬]中国电子科技集团公司

通讯作者信息:

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来源 :

半导体技术

ISSN: 1003-353X

年份: 2005

期: 9

卷: 30

页码: 37-38,42

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