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摘要:

在扫描电镜(SEM)中,通过记录和实时处理电子束辐照样品过程中产生的吸收电流La,评价非导电样品的荷电效应.对于非导电样品,La的绝对值很小,且变化幅度很大,这是电荷在非导电样品表面被捕获、积累和释放过程的直接反映.此外,La还可用来评价荷电补偿(改变环境压力、改变成像参数及对样品表面进行导电处理)的效果.

关键词:

吸收电流 扫描电镜(SEM) 荷电效应 非导电材料

作者机构:

  • [ 1 ] [吉元]北京工业大学
  • [ 2 ] [张虹]北京工业大学
  • [ 3 ] [史佳新]北京工业大学
  • [ 4 ] [何焱]北京工业大学
  • [ 5 ] [吕长志]北京工业大学
  • [ 6 ] [徐学东]北京工业大学
  • [ 7 ] [张隐奇]北京工业大学
  • [ 8 ] [郭汉生]北京工业大学

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来源 :

电子显微学报

ISSN: 1000-6281

年份: 2004

期: 3

卷: 23

页码: 265-268

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