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徐幸梓 (徐幸梓.) | 刘天模 (刘天模.) | 曾丁丁 (曾丁丁.) | 张兵 (张兵.) | 刘凤艳 (刘凤艳.)

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摘要:

由于金刚石与Si有较大的表面能差,利用化学气相沉积(CVD)制备金刚石膜时,金刚石在镜面光滑的Si表面上成核困难,而负衬底偏压能够增强金刚石在镜面光滑Si表面上的成核,表明金刚石核与Si表面的结合力也得到增强.本文分析衬底负偏压引起的离子轰击对Si表面产生的影响之后,基于离子轰击使得Si衬底表面产生了微缺陷(凹坑)增大了金刚石膜与Si衬底结合的面积,理论研究了离子轰击对金刚石膜与Si衬底结合力的影响.

关键词:

金刚石膜 离子轰击 结合力 凹坑

作者机构:

  • [ 1 ] [徐幸梓]重庆大学
  • [ 2 ] [刘天模]重庆大学
  • [ 3 ] [曾丁丁]重庆大学
  • [ 4 ] [张兵]北京工业大学
  • [ 5 ] [刘凤艳]北京工业大学

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来源 :

人工晶体学报

ISSN: 1000-985X

年份: 2004

期: 4

卷: 33

页码: 679-682

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