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张小玲 (张小玲.) | 吕长志 (吕长志.) | 谢雪松 (谢雪松.) | 何焱 (何焱.) | 侯英梁 (侯英梁.) | 冯士维 (冯士维.) (学者:冯士维) | 李志国 (李志国.) | 曾庆明 (曾庆明.)

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摘要:

介绍了AlGaN/GaN HEMT器件的研制及室温下器件特性的测试.漏源欧姆接触采用Ti/Al/Pt/Au,肖特基结金属为Pt/Au.器件栅长为1 pm,获得最大跨导220 mS/mm.最大的漏源饱和电流密度0.72 A/mm.由S参数测量推出器件的截止频率和最高振荡频率分别为12 GHz和24 GHz.

关键词:

氮化镓 直流特性 高电子迁移率晶体管

作者机构:

  • [ 1 ] [张小玲]北京工业大学
  • [ 2 ] [吕长志]北京工业大学
  • [ 3 ] [谢雪松]北京工业大学
  • [ 4 ] [何焱]北京工业大学
  • [ 5 ] [侯英梁]北京工业大学
  • [ 6 ] [冯士维]北京工业大学
  • [ 7 ] [李志国]北京工业大学
  • [ 8 ] [曾庆明]河北省半导体研究所

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来源 :

固体电子学研究与进展

ISSN: 1000-3819

年份: 2004

期: 2

卷: 24

页码: 209-211,257

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