高级检索
检索提示：高级检索多个条件检索时是按照顺序运算的：如 A或B与C 即:(A或B)与C
[期刊论文]
GaAs MESFET可靠性及快速评价新方法的研究
作者：
收录：
摘要：
提出了一种快速评价GaAs FET可靠性寿命的新方法.利用GaAs FET失效敏感参数的温度特性和在一定电应力下的退化特性,及温度斜坡法在线快速提取器件失效敏感参数的退化量与温度的关系,从而进一步求出器件的失效激活能等相关的可靠性物理参数.
关键词：
作者机构：
通讯作者信息：
电子邮件地址：
相关关键词：
相关文章：
2004，电子产品可靠性与环境试验
2005，第十一届全国可靠性物理学术讨论会
2006，半导体技术
2009，2009第十三届全国可靠性物理学术讨论会
来源 ：
半导体学报
ISSN： 0253-4177
年份： 2003
期： 8
卷： 24
页码： 856-860
被引次数：
WoS核心集被引频次： 0
SCOPUS被引频次：
ESI高被引论文在榜： 0 展开所有
万方被引频次： 21
中文被引频次：
近30日浏览量： 4
归属院系：
全文获取
外部链接：
