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[期刊论文]
AT&T准则下完全检验的最优设计
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本文研究了完全检验的质量控制问题,将广泛用于X-控制图的AT&T准则应用于完全检验,并根据完全检验的特点,提出一种新的最优模型,数值实验结果表明AT&T准则下的完全检验优于传统的完全检验.
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来源 ：
数理统计与管理
ISSN： 1002-1566
年份： 2003
期： 6
卷： 22
页码： 29-35
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