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邹云娟 (邹云娟.) | 张兴旺 (张兴旺.) | 宋雪梅 (宋雪梅.) | 严辉 (严辉.) | 陈光华 (陈光华.)

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摘要:

用热壁外延法在氟金云母衬底上生长出了高质量C60薄膜,用原子力显微镜观察了样品的表面形貌.测量并分析了不同厚度C60薄膜的紫外-可见吸收光谱.由测量的透射及反射光谱,经计算得到了吸收系数与入射光子能量的关系.利用结晶半导体的带间跃迁理论,对禁戒的带间直接跃迁hu→t1u和电偶极允许的带间直接跃迁hu→t1g的带隙分别进行了计算.

关键词:

C60薄膜 光学带隙 吸收光谱

作者机构:

  • [ 1 ] [邹云娟]北京工业大学
  • [ 2 ] [张兴旺]北京工业大学
  • [ 3 ] [宋雪梅]北京工业大学
  • [ 4 ] [严辉]北京工业大学
  • [ 5 ] [陈光华]北京工业大学

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来源 :

半导体学报

ISSN: 0253-4177

年份: 2001

期: 3

卷: 22

页码: 299-303

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