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吴郁 (吴郁.) | 陆秀洪 (陆秀洪.) | 亢宝位 (亢宝位.) | 王哲 (王哲.) | 程序 (程序.) | 高琰 (高琰.)

收录:

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摘要:

提出了一种新结构的IGBT,取名为低功耗IGBT(LPL-IGBT),它具有离子注入形成的超薄且轻掺杂的背P型发射区,从而具有NPT-IGBT的优点;同时具有由衬底预扩散残留层构成的n型缓冲层,又具有PT-IGBT的优点.计算机仿真结果证明,它的关断损耗比PT-IGBT和NPT-IGBT降低一倍左右.它的结构比FSIGBT更适合于实际生产.

关键词:

NPT-IGBT PT-IGBT 关断损耗 通态压降

作者机构:

  • [ 1 ] [吴郁]北京工业大学
  • [ 2 ] [陆秀洪]北京工业大学
  • [ 3 ] [亢宝位]北京工业大学
  • [ 4 ] [王哲]北京工业大学
  • [ 5 ] [程序]北京工业大学
  • [ 6 ] [高琰]北京工业大学

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来源 :

半导体学报

ISSN: 0253-4177

年份: 2001

期: 12

卷: 22

页码: 1565-1571

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