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梁业伟 (梁业伟.) | 杨志娟 (杨志娟.) | 石茵 (石茵.) | 魏道政 (魏道政.)

收录:

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摘要:

系统地研究了实际数字电路中冗余故障的特性.详细深入地分析了ISCAS 85基准电路中10个组合电路的全部550个冗余故障,找出了它们各自形成的原因并将其分成5类.研究发现其中只有3个故障是最难测的,算法中需要大量回溯;其它547个故障只要按照电路结构和测试本身的规律来形成测试,则基本上无需回溯即可.

关键词:

冗余故障 数字电路 深入分析

作者机构:

  • [ 1 ] [梁业伟]北京工业大学
  • [ 2 ] [杨志娟]北京工业大学
  • [ 3 ] [石茵]中国科学院计算技术研究所
  • [ 4 ] [魏道政]中国科学院计算技术研究所

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来源 :

计算机研究与发展

ISSN: 1000-1239

年份: 2001

期: 12

卷: 38

页码: 1429-1434

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