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邹云娟 (邹云娟.) | 宋雪梅 (宋雪梅.) | 严辉 (严辉.) | 陈光华 (陈光华.)

收录:

PKU CSCD

摘要:

用热壁外延法在氟金云母上生长出了高质量C60薄膜,用原子力显微镜观察了样品的表面形貌,并测量了不同厚度C60薄膜的紫外-可见吸收光谱.由近带隙区的透射及反射光谱,经计算得到了吸收系数与入射光子能量的关系,并利用Tauc公式确定了C60薄膜的光学带隙.

关键词:

C60 光学带隙 吸收光谱

作者机构:

  • [ 1 ] [邹云娟]北京工业大学
  • [ 2 ] [宋雪梅]北京工业大学
  • [ 3 ] [严辉]北京工业大学
  • [ 4 ] [陈光华]北京工业大学

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来源 :

材料科学与工程

ISSN: 1673-2812

年份: 2000

期: z2

卷: 18

页码: 832-834

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