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AT&T准则下完全检验的最优设计(英文)
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本文研究了完全检验的质量控制问题,将广泛用于X-控制图的AT＆amp;T准则应用于完全检验,并根据完全检验的特点,提出一种新的最优模型,数值实验结果表明AT＆amp;T准则下的完全检验优于传统的完全检验。
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来源 ：
数理统计与管理
年份： 2003
期： 06
页码： 29-35
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