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摘要:

在织构Ag基带上用脉冲激光方法沉积YBa2Cu3O7-δ超导膜,直流电阻法测量超导膜的临界电流密度为4×105A/cm2. 结合生成膜的结构分析,对YBa2Cu3O7-δ超导体在Ag基带上的生长机制进行讨论.

关键词:

临界电流密度 基带 成膜 测量 生长机制 直流电阻法 织构 结构分析 脉冲激光方法 超导体 超导膜

作者机构:

  • [ 1 ] [周美玲]北京工业大学
  • [ 2 ] [郭汉生]北京工业大学
  • [ 3 ] [刘丹敏]北京工业大学
  • [ 4 ] [翟乐恒]北京工业大学
  • [ 5 ] [左铁镛]北京工业大学
  • [ 6 ] [周岳亮]中国科学院物理研究所
  • [ 7 ] [王荣平]中国科学院物理研究所
  • [ 8 ] [潘少华]中国科学院物理研究所
  • [ 9 ] [王焕华]中国科学院物理研究所

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来源 :

低温物理学报

ISSN: 1000-3258

年份: 1999

期: 6

卷: 21

页码: 418-421

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