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热应力条件下VLSI金属化布线的可靠性

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郭伟玲 (郭伟玲.) | 李志国 (李志国.) | 周天夷 (周天夷.) | 孙英华 (孙英华.) | 张万荣 (张万荣.) | 沈光地 (沈光地.) Unfold

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温度梯度可靠性金属化 VLSI 电迁徙

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微电子学

ISSN： 1004-3365

Year： 1998

Page： 59-63

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