[期刊论文]
新型AI金属化系统微波器件EB结的可靠性研究
作者：
郭伟玲
(郭伟玲.)
|
李志国
(李志国.)
作者机构：
-
[ 1 ]
[郭伟玲]北京工业大学电子工程系可靠性物理室
-
[ 2 ]
[李志国]北京工业大学电子工程系可靠性物理室
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来源
：
半导体技术
ISSN：
1003-353X
年份：
1997
期：
003
卷：
000
页码：
28-32
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